Am 24. und 25. Juni veranstalten LUM France und die LUM GmbH ihre Expertentage zur Partikelcharakterisierung am Sitz von LUM France in Plaisir (Paris). Den Schwerpunkt bildet diesmal der LUMiSpoc. Die Veranstaltung richtet sich in erster Linie an Kunden aus Frankreich. Diese erhalten eine Schulung an den Messgeräten der LUM GmbH, indem sie eigene Proben messen.
Messung von Partikelgrößenverteilung und Partikelkonzentration
Der LUMiSpoc ist ein hochentwickeltes Einzelpartikel-Analysesystem, ähnlich einem Durchflusszytometer, das die Partikelgrößenverteilung und -konzentration von Nano- und Mikropartikeln in Suspensionen und Emulsionen in hoher Auflösung und einem weiten Dynamikbereich misst. Das Instrument verwendet die patentierte SPLS-Technologie, die Licht aufzeichnet, das von einzelnen Nano- und Mikropartikeln in Vorwärts- und Seitwärtsrichtung gestreut wird, während ein Laserstrahl mit einem speziellen Strahlquerschnitt durchgelassen wird. Es ermöglicht einen Einblick in komplexe Nano- und Submikropartikelsysteme, mit denen maßgeschneiderte Partikel und Dispersionen entworfen werden können.
Experten-Referate vor Ort
Vor Ort referieren die Experten Elia Wollik und Sylvain Gressier. Elia Wollik ist Senior Product Specialist bei der LUM GmbH, spezialisiert auf Nanopartikelanalyse und optische Messtechniken. Er war maßgeblich an der Entwicklung und Markteinführung des LUMiSpoc beteiligt. Wollik hat einen Master-Abschluss in Pharmazeutischer und Chemischer Technologie mit den Schwerpunkten Partikelanalyse und Lichtstreuung. Sylvain Gressier, Manager der französischen Tochtergesellschaft der LUM GmbH, verfügt über 13 Jahre praktischer und theoretischer Erfahrung in Frankreich im Einsatz von LUM-Messgeräten zur Mikro- und Nanopartikelcharakterisierung, für direkte beschleunigte Stabilitätstests von Dispersionen und Emulsionen sowie zu Materialprüfungen.