Die Sensoren reflectCONTROL von Micro-Epsilon nutzen phasenmessende Deflektometrie, um aus projizierten Streifenmustern eine hochauflösende 3D-Punktewolke zu erzeugen. Dadurch lassen sich Unebenheiten, Kratzer und kleinste Formabweichungen auf hochreflektierenden oder transparenten Oberflächen zuverlässig detektieren.
Der für den Einsatz in Produktionslinien optimierte RCS130-160 3D HLP ist mit einer GigE-Vision-Schnittstelle ausgestattet und lässt sich nahtlos in bestehende Bildverarbeitungssysteme integrieren.
Nanometergenaue Auflösung für Industrieanwendungen
Mit einer z-Auflösung im Nanometerbereich, einer Wiederholpräzision von < 1 µm und bis zu fünf Millionen 3D-Datenpunkten eignet sich das System für anspruchsvolle Messaufgaben – etwa in der Formmessung an Wafern oder in der Inspektion lackierter Automobilbauteile während der Oberflächenkontrolle.
Micro Epsilon ist auf der PaintExpo in Halle 1, Stand 1131, zu finden.