IKV freut sich über Weiterförderung

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Die beiden Sonderforschungsbereiche SFB TR 87 „Gepulste Hochleistungsplasmen zur Synthese nanostrukturierter Funktionsschichten“ und SFB 1120 „Bauteilpräzision durch Beherrschung von Schmelze und Erstarrung in Produktionsprozessen“ erhielten im Mai 2018 von der Deutschen Forschungsgemeinschaft (DFG) die Bewilligung zur weiteren Förderung in der nun dritten Phase. Das Institut für Kunststoffverarbeitung (IKV) ist an beiden Sonderforschungsbereichen mit mehreren Teilprojekten beteiligt.

SFB TR 87

Plasmatechnologien bieten enorme Potenziale für Verpackungen und medizinische Produkte. Sie verleihen Kunststoffverpackungen Hochbarriere-Eigenschaften, vermeiden bei medizintechnischen Produkten den Einsatz von Silikonölen oder substituieren Glaswerkstoffe. Seit 2010 forschen Wissenschaftler der Ruhr-Universität Bochum, der RWTH Aachen sowie der Universität Paderborn im SFB TR 87 „Gepulste Hochleistungsplasmen zur Synthese nanostrukturierter Funktionsschichten“. 2014 konnte das Forscherteam eine weitere vierjährige Förderperiode im Begutachtungsprozess der DFG erwirken. Aufgrund der erzielten Forschungsergebnisse und zahlreicher neuer Fragestellungen wurde eine dritte Förderperiode beantragt, die am 17. Mai 2018 von der DFG bewilligt wurde. Ausschlaggebend dafür waren auch die überzeugenden Kooperationen zwischen Grundlagen- und angewandten Wissenschaften.

SFB 1120

Die Begehung zur Begutachtung des Sonderforschungsbereichs SFB 1120 „Bauteilpräzision durch Beherrschung von Schmelze und Erstarrung in Produktionsprozessen“ fand im Januar 2018 am IKV statt. Auch diese Begehung bewerteten die Gutachter positiv und die weitere Förderung wurde ebenfalls im Mai durch die DFG bewilligt. Der SFB 1120 hat das Ziel, für schmelzebasierte Fertigungstechnologien – wie Urformen, Fügen, Trennen, generative Fertigung und Beschichten – eine dimensionsübergreifende Beschreibung der ablaufenden Prozesse zu erarbeiten. Damit soll die Präzision der Fertigung bezogen auf Geometriefehler, innere Bauteilfehler und Oberflächengenauigkeiten um mindestens eine Größenordnung erhöht werden.

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