Weißlicht-Interferometer lassen sich heute bei 3D-Messungen der Oberflächenrauheit direkt in der laufenden Fertigung nutzen, etwa für die Qualitätskontrolle oder Prozessüberwachung. Polytec hat seine TopMap-Familie jetzt um ein spezielles Inline-Messsystem erweitert. Je nach Aufgabe und Messbereich sind mit TopMap Rapid.View Messzeiten im Sekundenbereich realisierbar. Bei einem Höhenmessbereich von 400 µm ist das mikroskopbasierte System mit seiner hohen lateralen Auflösung geeignet zur präzisen Inline-Rauheitsmessung. Es erkennt feinste Oberflächenstrukturen und hält mit schnellen Fertigungstakten Schritt. Gescannt wird in Echtzeit.
Da das Inline-Messsystem sehr kompakt gebaut ist, lässt es sich gut in die Fertigungslinie integrieren. Der Messkopf kann zudem wie ein Sensor separat montiert und damit flexibel positioniert werden. Dank vieler Exportmöglichkeiten können die 3D-Messdaten mit jeder geeigneten Auswertesoftware, so auch der Polytec-Software TMS, bearbeitet werden. „Messrezepte“ erleichtern Routineaufgaben. Somit werden aus komplexen Oberflächenanalysen einfache Ein-Klick-Lösungen.