Messen im Nanometerbereich mit Weißlichtinterferometer von Mahr

Anzeige Messen und Prüfen | Erstellt von SP

Mahr hat sein Portfolio an Oberflächenmesstechnik um neue Weisslichtinterferometer erweitert. Dank des „Intelligent Correlation Algorithm“ ermöglichen diese Geräte ein höchst stabiles Signal bei extrem niedrigem Rauschmaß.

Die drei neuartigen Weißlichtinterferometer des Göttinger Messtechnikspezialisten Mahr messen zuverlässig die Oberflächentopografien bis in den Sub-Nanometerbereich. Dafür sind sie mit der neuentwickelten ICA-Technologie („Intelligent Correlation Algorithm“) ausgestattet, die eine sehr gute statistische Bestimmung der Höhenwerte, hochwertige  Datenqualität und ein minimales  Rauschmaß von nur 80 Pikometern ermöglicht. Messdaten liefert die neue Technologie in wenigen Sekunden. Das bedeutet für Anwender: Hochpräzise Topografiedaten und Oberflächenstrukturen bei einer sehr hohen vertikalen Auflösung.

Die neue Produktserie von Mahr umfasst drei Geräte: Das manuelle MarSurf WI 50 M als Allround-Einstiegslösung für anspruchsvolle Messaufgaben. Das MarSurf WI 50, ein hochpräzises Messgerät für Forschung und Qualitätsmanagement, und das automatisierbare MarSurf WI 100 als Profigerät mit erweiterter Z-Achse für besonders große Werkstücke.

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