Die Anton Paar GmbH präsentiert ein AFM, das speziell für Anwender in der Industrie konzipiert ist: Das Rasterkraftmikroskop Tosca 400 wendet neue Automatisierungsformen an und soll damit nicht nur die Effizienz von AFM-Messungen erhöhen, sondern diese auch vereinfachen. Bislang wurden Rasterkraftmikroskope hauptsächlich in der akademischen Welt und in Forschungszentren eingesetzt, jedoch reagiert die Firma auf die ständig wachsende Nachfrage aus der Industrie, wo man in Verbindung mit neuen Materialien und Forschungsschwerpunkten an komplexen Nano-Oberflächenanalysen interessiert ist. Somit ist dieses AFM für Anwender in der Industrie und Wissenschaft gleichermaßen geeignet.
Der Betrieb ist weitgehend automatisiert, um die Effizienz zu steigern und die AFM-Messungen einfacher zu gestalten. Eine automatische Laserausrichtung, Seitenansicht-Kameras für eine möglichst einfache Probenannäherung sowie eine Workflow-orientierte Steuerungs- und Analysesoftware vereinfachen die Messungen. Der Anwender startet die Laserausrichtung mit nur zwei Klicks in der Steuerungssoftware. Wenn der Cantilever auf der Aktuatoreinheit und diese auf dem AFM-Kopf angebracht sind, führt das Instrument die Ausrichtung automatisch aus. Mithilfe einer Seitenansicht-Kamera kann der Anwender die exakte Position des Cantilevers auf dem PC-Bildschirm verfolgen und diesen dicht an die Probenoberfläche annähern. Anschließend wird der Cantilever automatisch auf die Oberfläche abgesenkt und ist innerhalb von Sekunden zum Scannen bereit.
Der Probemaster wurde für den schnellen und einfachen Cantileverwechsel entwickelt – er bietet reichlich Platz für den Cantilever und ist deshalb auch von weniger erfahrenen Anwendern leicht zu handhaben. Es kommt zu keiner Beschädigung wertvoller Cantilever und der winzige Cantilever-Chip braucht nicht mehr mit der Pinzette positioniert zu werden. Darüber hinaus ist Tosca 400 mit Cantilevern aller Art, unabhängig von Marke und Hersteller, kompatibel.