Die Helmut-Fischer-Gruppe präsentiert auf den ZVO-Oberflächentagen 2026 in Karlsruhe das Fischerscope XDAL. Das Röntgenfluoreszenz-Messgerät (XRF) wurde für die hochpräzise Schichtdickenmessung und Materialanalyse entwickelt und ist insbesondere für dünne und sehr dünne Beschichtungen ausgelegt.
Schnellere Messabläufe durch neue Geräte- und Softwaregeneration
Das Messsystem verfügt über eine optimierte Messgeometrie und eine deutlich beschleunigte Probenpositionierung. Zusammen mit der neuen, KI-gestützten Software Fisiq X sollen sich Messabläufe vereinfachen und die Effizienz der Qualitätskontrolle erhöhen.
Das System richtet sich unter anderem an Anwender aus der Galvano- und Beschichtungsindustrie sowie der Elektronikfertigung, in denen eine präzise Schichtdickenmessung und Materialanalyse gefordert sind.
Vortrag zur Auswahl des Anodenmaterials
Begleitend zur Produktvorstellung beteiligt sich Fischer am Vortragsprogramm der ZVO-Oberflächentage. Johanna Malina Zeiss erläutert in ihrem Vortrag „XRF – Wahl des richtigen Anodenmaterials“, welchen Einfluss das Anodenmaterial auf die Leistungsfähigkeit von Röntgenfluoreszenzmessungen hat und welche Auswahlkriterien dabei zu berücksichtigen sind.
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