DGO vergleicht Messverfahren für Cr-Schichten

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Der DGO Arbeitskreis ‚Dekorative Cr(III)-Verfahren‘ vergleicht und bewertet die Ergebnisse eines Ringversuchs zur Schichtdickenmessung dreiwertig abgeschiedener Cr-Schichten.

Mitte Dezember 2023 fand bei der BIA Kunststoff- und Galvanotechnik GmbH in Solingen die zweite Sitzung des DGO-Arbeitskreises Dekorative Cr(III)-Verfahren statt. Insgesamt 20 Teilnehmer aus Wissenschaft und Praxis dokumentierten die nach wie vor hohe Relevanz aktueller Themen in Zusammenhang mit dreiwertig abgeschiedenen Cr-Schichten.

Coulometrie, Röntgenfluoreszenz und Querschliff

Kernthema der Sitzung waren die vorläufigen Endergebnisse aus dem durchgeführten Ringversuch zur Schichtdickenmessung dreiwertig abgeschiedener Glanzchromschichten. Das Ziel war, diverse Ungenauigkeiten bei der Schichtdickenmessung mittels etablierter Verfahren (Coulometrie, Röntgenfluoreszenzanalyse, Messung am Querschliff) branchenweit zu erfassen und neutral zu bewerten. Bei den Beschichtern fanden zwei parallelen Messrunden mit verchromtem Kunststoff- und Messingsubstraten statt. Als Referenz wurden Messwerte mittels Kalottenschliff und FIB ermittelt.

Streuung zu groß

Eine wichtige Erkenntnis aus den Ergebnissen ist, dass insbesondere die RFA-Messergebnisse einer stärkeren Streuung unterliegen und zwischen den Unternehmen nur bedingt vergleichbar sind. Demzufolge wurde vereinbart, den Ringversuch mit einer klar definierten, vereinheitlichten Messaufgabe erneut durchzuführen.

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