ist die von der Oberfläche eines Materials an gerechnete Tiefe, aus welcher die für das betreffende Analysenverfahren entscheidenden Teilchen bzw. Wellen (Elektronen, Ionen, Röntgenstrahlen) kommen.
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► Aus dem mo Lexikon der Oberflächentechnik - in der Übersicht finden Sie weitere Begriffe.