Rasterkraftmikroskop

(AFM) ist ein Messgerät zur mechanischen Abtastung von Oberflächen im Nanometerbereich. Hierbei wird die relative Bewegung einer Messspitze zu einer Probe mit Hilfe eines Lasers erfasst und ausgewertet. Die laterale Auflösung liegt im Bereich von 0,1 bis 10 nm.