Neue Generation optischer 3D-Messgeräte von Polytec

Die neuen optischen 3D-Oberflächenmessgeräte MicroView und MicroView+ sind konzipiert, um bei Präzisionsmechanik und Funktionsoberflächen Rauheit, Mikrostrukturen sowie Leistungsfähigkeit von Dichtflächen zu untersuchen.

MicroView und MicroView+ von Polytec (Bild: Polytec)

MicroView und MicroView+ stellen die neueste Entwicklung an 3D-Profilometern dar. Im Farbmodus lassen sich Defekte besser lokalisieren und dokumentieren für eine differenziertere Oberflächenanalyse anhand farbiger Mikroskopbilder. Sselbst feinste Oberflächendetails werden mit einer Auflösung im Sub-Nanometerbereich erfasst. Die CST Continuous Scanning Technologie erlaubt den erweiterten Verfahrweg von 100 mm komplett als vertikalen Messbereich auszunutzen für eine kontinuierliche Erfassung der Höhendaten. Die Präzisions-Z-Achse bietet mehr Freiheiten beim Positionieren, beschleunigt die Messvorbereitungen und ist vorteilig in der Wartung.

Um das Messobjekt stets im Fokus zu haben, helfen Focus Finder und Focus Tracker zum automatisierten Repositionieren. Mit dem voll motorisierten Zubehör für die präzise Positionierung sowie der Kipp-Neige-Plattform behält der Fokus Tracker stets den eingestellten Fokus und gewährleistet wiederholgenaue. Da die unmittelbare Umgebung des Messgerätes für unterschiedliche Nutzer und Einsatzorte variiert, bietet das MicroView+ mit seinem modularen Konzept bewusst diverse Freiheitsgrade, um beispielsweise bis zu 370 mm hohe Proben aufnehmen zu können. Für automatisierte Fertigungskontrollen lässt sich der Messkopf auch direkt in die Produktionslinie integrieren.

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